文字サイズの変更
JBMIA
 検索
SC17国内委員会 > SC17/WG 1国内委員会
SC 17/WG 1: 主査 清水 剛宏

1.委員会概要
本国内委員会では、 ISO/IEC JTC1/SC 17/WG 1の国内委員会として、IDカードの物理的特性及び試験方法に 関する国際標準化案件を審議しています。


2.活動内容
本国内委員会は、国内のカードメーカー、 端末メーカー及びユーザーなどにより構成され、IDカードの物理的特性、記録技術、 耐久性試験など担当するWIの審議、投票案件の審議及び毎年3回開催される国際会議に 向けてのコメント等、日本の主張を国際の場に反映するための各種検討を毎月1回のペースで開催しています。


3.審議規格など
本国内委員会で審議している主な規格は次のとおりです。
・ISO/IEC 7810(IDカードの物理的特性)
・ISO/IEC 7811 シリーズ(IDカードの記録技術)
・ISO/IEC 10373-1、-2(IDカードの試験方法)
・ISO/IEC 18328-2(デバイス付きカードの物理的特性)
・ISO/IEC 24789シリーズ(IDカードの耐久性試験)


4.その他
IDカードの基本技術全般を担当していますので、 カードに関係する皆様のご参加をお待ちしています。

一般社団法人 ビジネス機械・情報システム産業協会 SC17国内委員会 事務局
FAX : 03-3451-1770
〒108-0073 東京都港区三田3-4-10 リーラヒジリザカ7階
個人情報保護について
ご利用条件について

Copyright 2015 Japan Business Machine and Information System Industries Association. All Rights Reserved.