|
|
 |
|
|
|
|
|
|
|
|
| SC17国内委員会 > SC17/WG 1国内委員会 |
|
SC 17/WG 1： 主査 清水 剛宏
|
| 1.委員会概要
|
|
|
本国内委員会では、
ISO/IEC JTC1/SC 17/WG 1の国内委員会として、IDカードの物理的特性及び試験方法に
関する国際標準化案件を審議しています。
|
|
| 2.活動内容
|
|
本国内委員会は、国内のカードメーカー、
端末メーカー及びユーザーなどにより構成され、IDカードの物理的特性、記録技術、
耐久性試験など担当するWIの審議、投票案件の審議及び毎年3回開催される国際会議に
向けてのコメント等、日本の主張を国際の場に反映するための各種検討を毎月1回のペースで開催しています。
|
|
| 3.審議規格など
|
|
|
本国内委員会で審議している主な規格は次のとおりです。
・ISO/IEC 7810（IDカードの物理的特性）
・ISO/IEC 7811 シリーズ（IDカードの記録技術）
・ISO/IEC 10373-1、-2（IDカードの試験方法）
・ISO/IEC 18328-2（デバイス付きカードの物理的特性）
・ISO/IEC 24789シリーズ（IDカードの耐久性試験）
|
|
| 4.その他
|
|
|
IDカードの基本技術全般を担当していますので、
カードに関係する皆様のご参加をお待ちしています。
|
|
|
|
|
|
 |
 |
 |
一般社団法人 ビジネス機械・情報システム産業協会 ISO情報技術国内委員会 事務局
FAX ： 03-3451-1770
〒108-0073 東京都港区三田3-4-10 リーラヒジリザカ7階 |
個人情報保護について
ご利用条件について
|
|
|
|
| Copyright © 2015-2022 Japan Business Machine and Information System Industries Association. All Rights Reserved. |
|
